DYNAMOMETRE PESON BLET DYN22 0-1000N
Ref : DYN22-P1000-00
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure: 0-1000N Graduation: 20N Allongement maximal: 75mm
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CLE DYNAMOMETRIQUE MECANIQUE EMBOUT CARRE 1-6...
Ref : CLET5-CMC00614
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure : 1-6 Nm, Lecture : 0,05 Nm, Précision : 3%, Taille : 1/4", Longueur : 205 mm
MICROSCOPE PEAK 2064-CIL-150
Ref : LOUM2-M1200L
Disponibilité: indisponible
Microscope standard de la série PEAK 2054, grossissement: 20, graduation: 0.1mm, longueur de mesure: 0.9mm
BLET
BLET
DYNAMOMETRE PESON BLET DYN22 0-100g
Ref : DYN22-P0100G-00
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure: 0-100g Graduation: 1g Allongement maximal: 100mm
CLE DYNAMOMETRIQUE MECANIQUE EMBOUT CARRE 2-20...
Ref : CLET5-CMC02014
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure : 2-20 Nm, Lecture : 0,15 Nm, Précision : 3%, Taille : 1/4", Longueur : 230 mm
MICROSCOPE PEAK 2064-CIL-200
Ref : LOUM2-M2200L
Disponibilité: indisponible
Microscope standard de la série PEAK 2054, grossissement: 20, graduation: 0.1mm, longueur de mesure: 0.6mm
BLET
BLET
DYNAMOMETRE PESON BLET DYN22 0-200g
Ref : DYN22-P0200G-00
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure: 0-200g Graduation: 2g Allongement maximal: 100mm
CLE DYNAMOMETRIQUE MECANIQUE EMBOUT CARRE 5-25...
Ref : CLET5-CMC02514
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure : 5-25 Nm, Lecture : 0,25 Nm, Précision : 3%, Taille : 1/4", Longueur : 250 mm
MICROSCOPE PEAK 2064-CIL-300
Ref : LOUM2-M3200L
Disponibilité: indisponible
Microscope standard de la série PEAK 2054, grossissement: 20, graduation: 0.1mm, longueur de mesure: 0.4mm
BLET
BLET
DYNAMOMETRE PESON BLET DYN22 0-500g
Ref : DYN22-P0500G-00
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure: 0-500g Graduation: 5g Allongement maximal: 100mm
CLE DYNAMOMETRIQUE MECANIQUE EMBOUT CARRE 5-30...
Ref : CLET5-CMC03038
Disponibilité: indisponible
Plage de mesure : 5-30 Nm, Lecture : 0,25 Nm, Précision : 3%, Taille : 3/8", Longueur : 250 mm
ECHELLE DE MESURE PEAK EN NOIR POUR MICROSCOPES...
Ref : ACCM2-PS-25
Disponibilité: indisponible
Echelle graduée de rechange pour microscopes de la série 2008